21. Embedded Processor- Based self-test
المؤلف: / Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis, Yervant Zorian
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Electronic circuits testing,computer engineering
رده :
TK7867
.
E46G5
2009
22. Embedded processor-based self-test
المؤلف: / by Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis and Yervant Zorian
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Electronic circuits--Testing,Computer engineering.
رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
G59
,
2004
23. Fault detection in digital circuits
المؤلف: / (by) Arthur D. Friedman (and) Premachandran R. Menon
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Electronic digital computers - Circuits - Testing,Electric fault location
رده :
TK
7887
.
F75
24. Formal verification :
المؤلف: Erik Seligman, Tom Schubert, M.V. Achutha Kiran Kumar
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic circuits-- Testing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)
رده :
TK7867
25. Formal verification : an essential toolkit for modern VLSI design
المؤلف: Seligman, Erik
المکتبة: (طهران)
موضوع: Testing ، Electronic circuits,Design and construction ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Verilog )Computer hardware description language(
رده :
TK
7867
.
S46F6
26. Formal verification of circuits
المؤلف: / Rolf Drechsler
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Electronic circuits -- Testing,Decision trees
رده :
TK
7867
.
D7
2000
27. ICCAD-2003 : International Conference on Computer Aided Design, November 9-13, 2003, DoubleTree Hotel, San Jose, CA
المؤلف: sponsored by IEEE Circuits and Systems Society...]et al.[
المکتبة: (طهران)
موضوع: Congresses ، Electronic circuit design,Congresses ، Computer-aided design,Testing -- Congresses ، Electronic circuits
رده :
TK
7867
.
I36
2003
28. ICCAD-2004 : International Conference on Computer Aided Design, November 7-11, 2004, DoubleTree Hotel, San Jose, CA
المؤلف: sponsored by: IEEE CASS/CANDE; IEEE Circuits & Systems Society; IEEE Computer Society; ACM SIGDA
المکتبة: (طهران)
موضوع: Congresses ، Electronic circuit design,Congresses ، Computer-aided design,Testing -- Congresses ، Electronic circuits
رده :
TK
7867
.
I36
2004
29. 1992 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, November 7-11, 1993, Santa Clara, California : digest of technical papers
المؤلف:
المکتبة: (طهران)
موضوع: Electronic circuit design - Data processing - Congresses , Computer-aided design - Congresses , Electronic circuits - Testing - Congresses
رده :
TK
7867
.
I376
1993
30. IEEE standard Tests access port and boundary-scan architecture
المؤلف: sponsor test technology standards committee of the IEEE computer society
المکتبة: (سمنان)
موضوع: Testing Data processing ، Electronic circuits,، Computer architecture,، Boundary scan testing
رده :
TK
7867
.
E54
2001
31. Instrumentation and test gear circuits manual
المؤلف: R M Marston
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic circuits.,elektrisk måleteknik,Testing -- Equipment and supplies.
رده :
TK7867
.
R563
1993
32. McGraw-Hill circuit encyclopedia and troubleshooting guide
المؤلف: Lenk, John D.
المکتبة: (طهران)
موضوع: Electronic circuits , Electronic circuits - Testing
رده :
TK
7867
.
L463
1993
33. Models in hardware testing
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Electronic digital computers ; Circuits ; Testing. ; Integrated circuits ; Verification. ; Integrated circuits ; Computer simulation. ;
34. Models in hardware testing
المؤلف: / edited by Hans-Joachim Wunderlich
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Electronic digital computers--Circuits--Testing,Integrated circuits--Verification,Integrated circuits--Computer simulation
رده :
TK
,
7888
.
4
,.
M63
,
2010
35. On-line testing for vlsi
المؤلف: / edited by Michael Nicolaidis, Yervant Zorian, Dhiraj K. Pradan
المکتبة: المكتبة المركزية لجامعة إيلام (إیلام)
موضوع: Electronic circuits- Testing- Data processing,Online data processing,Electronic circuit design,Error-correcting codes (Information theory)
رده :
TK7867
.
O5
1998
36. Practical radio frequency test and measuremen
المؤلف: / Joseph J. Carr
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Radio measurements.,Electronic measurements.,Radio circuits--Testing
رده :
TK
,
6553
,.
C2943
,
2002eb
37. Practical radio frequency test and measurement :
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Radio measurements ; Electronic measurements ; Radio circuits ; Testing ;
38. Practical radio frequency test and measurement
المؤلف: / Joseph J. Carr
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Radio measurements,Electronic measurements,Radio circuits -- Testing
رده :
TK
6553
.
C2943
1999
39. Practical radio frequency test and measurement: a technician handbook
المؤلف: / by Joseph J. Carr
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Radio measurements,Electronic measurements,Radio circuits- Testing
رده :
TK6553
.
C2943
1999
